内容简介
测试性与机内测试是当前国内外装备设计、测试与维修保障领域研究和应用的热点，开展机内测试虚警抑制和降虚警技术的研究具有重要的学术价值和工程实际应用价值。本书针对机电系统机内测试广泛存在的虚警问题进行了系统的论述：对虚警的产生原因、机理及表现形式进行深入分析和建模；根据机电系统监控与诊断的特点，从基于征兆的监控诊断虚警、基于模型的监控诊断虚警和时间应力导致的虚警等角度，详细阐述了虚警抑制和降虚警的原理、模型和技术方法；给出了降虚警技术在典型机电系统中的应用案例。
本书可作为高等院校相关专业研究生和高年级本科生的参考书，也可供从事装备设计、测试与维修保障的科研和工程技术人员参考。