个人简介

Michael L. Bushnell是美国Rutgers大学电子与计算机工程系的正教授和董事会研究会员。他于1975年在麻省理工学院获得学士学位，并分别于1983年和1986年在卡内基梅隆大学获得硕士和博士学位。1983年他入选美国电子协会才能发展计划（Faculty Development Program），并获得过卡内基梅隆大学杰出毕业生教学奖。Bushnell还是美国国家自然科学基金的总统青年研究员。他最近在VLSI CAD上的研究方向是串行和分布式计算机上的数字、模拟和混合信号电路的自动测试码模式生成、延迟故障的内建自测试、故障模拟、可测试性综合和低功耗设计等。他是Journal of Electronic Testing: Theory and Applications杂志编委会成员，并曾担任1995年和1996年International Conference on VLSI Design印度年会程序委员会的联合主席。
Vishwani D. Agrawal 现在是贝尔实验室（Lucent Technologies公司的研发机构）计算科学研究中心的杰出科学家，也是Rutgers大学电子与计算机工程系的客座教授。他于1960年在印度Allahabad大学获理学学士学位，1964年在印度Roorkee大学获得（荣誉）工学学士学位，1966年在印度科学研究所获硕士学位，1971年在美国伊利诺斯大学获得电子工程博士学位。他最近的研究方向是测试、可测试性综合和并行算法。他是Journal of Electronic Testing: Theory and Applications的主编和IEEE Design & Test of Computers 杂志的原主编。1993年，他获得伊利诺斯大学杰出校友奖。1998年，由于对电子测试领域的创造性贡献，他获得了IEEE计算机协会Harry H. Goode 纪念奖。

内容简介

VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试，本书系统地介绍了这三类电路的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。第一部分是测试基础，介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、基于DSP和基于模型的模拟与混合信号测试、延迟测试和IDDQ测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、边界扫描测试、模拟测试总线标准和基于IP核的SOC测试。
本书可作为高等学校计算机、微电子、电子工程、无线电及自动控制、信号处理专业的高年级学生与研究生的教材和参考书，也可供从事上述领域工作的科研人员参考，特别适合于从事VLSI电路设计和测试的工程技术人员。