个人简介
Alfred L. Crouch毕业于肯塔基大学,获电气工程学硕士学位(MSEE)。他曾先后供职于德州仪器、数字设备公司以及摩托罗公司,长期从事测试设计、测试自动化以及计算机辅助测试的工作。他在若干IEEE出版物、E-Timers以及专业杂志发表过大量文章,是IEEE会员。他拥有9个美国专利,主要是测试相关的发明专利,如逻辑内建自测试、存诸器内建自测试、扫描结构、扫描优化、低功耗测试以及全速扫描。
内容简介
本书论述集成电路与嵌入式数字系统的测试技术,提出许多重要且关键的解决方案。针对目前在测试中遇到的实际问题,从技术有产品的投资成本上论述嵌入内核和soC的测试问题。
本书适合作为高等院校相关专业本科生、研究生的教材或参考书,也可供相关专业技术人员参考。