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国际贸易的技术溢出:理论及其对中国的实证研究

作者:李小平 著

出版社:北京大学出版社

出版日期:2008年08月
个人简介
李小平,2006年毕业于上海财经大学,获经济学博士学位。现为中国社会科学院博士后,中南财经政法大学经济学院副教授,国际经济学系副主任,硕±研究生导师。
  自2004年以来,以第一作者或独著方式在《经济研究》、《管理世界》、《世界经济》、《统计研究》、《数量经济技术经济研究》、《财贸经济》、《经济学季刊》等权威刊物上发表过多篇文章,同时还是《经济研究》、《世界经济》、《经济学季刊》、《系统工程学报》等刊物的匿名审稿人。主持过霍英东教育基金优选资助项目和湖北省社会科学基金,获得过安子介国际贸易研究奖。主要研究领域为国际贸易理论、技术经济学、经济增长理论等。
内容简介
促进技术进步的全球R&D支出和创新活动主要集中在少数几个发达国家,但是技术进步并不局限于这些发达国家内部。因此,国际技术溢出问题就成为理论界的一个研究热点。本书主要分析了以下几个问题:国际贸易技术溢出的机理如何?中国是否从国际贸易中获得了技术溢出?中国怎样从国际贸易技术溢出中获得更大的收益?
本书的创新
首次运用国际R&D溢出回归方法研究了中国工业行业的国际贸易技术溢出问题。
从吸收能力的角度,分析了国际贸易技术溢出的门槛效应,发现出口的正门槛效应和进口的负门槛效应同时并存。
运用DEA方法,分析了国际贸易的技术溢出对行业的生产率增长的影响。
运用VECM模型,检验了中国国际贸易和技术进步的长短期因果关系。
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